Praktisk nätdimensionering

Dimensionera morgondagens elnät med avseende på immunitet mot olika EMC-störningar.

Pris

11.200 SEK

Sista anmälningsdag

2 veckor innan kurstillfället

Logi

Eventuell logi bokas av kursdeltagaren

Förtäring

Lunch och fika ingår i priset.

Kurslängd

2 dagar

Beskrivning

Hur dimensionerar man morgondagens elnät med avseende på immunitet mot olika EMC-störningar?

De beräkningsunderlag som använts tidigare passar inte nät med moderna laster. Problematiken finner man bl.a. med den ökande andelen stora 1-fasiga laster. De medför att gamla dimensioneringsregler kan ge ökande störningar i nätavsnitten dvs. vi bygger in problem från början våra nät.

EMC-störningar utgör ofta olika problem vid igångkörning av ett nytt nät/apparatavsnitt. Dessa störningar kan kräva betydande kostnader när de åtgärdas för att erhålla en störningsfri drift av anläggningen. Många EMC-problem kan undvikas genom att konsekvent arbeta med relevanta kortslutningsimpedanser vid konstruktion och upphandling av ett nytt nätavsnitt och/eller abonnentanläggning. Detta arbetssätt kommer leda till att planeringsnivåer enligt bl.a. SS EN 61 000-2-2 automatiskt integreras i konstruktionsarbetet. Denna nätdimensionering ger även en bild av förväntade immunitetsnivåer för aktuellt nätavsnitt.

SS 421 18 11 upphörde att gälla den 1:a maj 2005. Nu anger bl.a. SS EN 61 000-2-2 kompabilitetsnivåerna för EMC-störningar. Därmed kommer ansvariga för elnäten, både borgerliga och industriella, att själva få bestämma planeringsnivåerna för dessa storheter. En störningsfri elmiljö kräver att alla tre parter dvs. nätansvariga, apparat/anläggningsleverantörer samt abonnenter är delaktiga och tar ansvar för den framtida installationen. Ett sådant samarbete skulle radikalt minska EMC-störningarna.

I kursen ingår arbete med ett nätberäkningsprogram för att simulera/påvisa vilka konsekvenser olika dimensioneringsval får för tänkt nätavsnitt. Vi arbetar med 1- och 3-fasiga övertonsgenererande laster och laster med stora inkopplingsströmmar.